SWT-NEOⅡ/NEOⅢ 雙型薄膜厚度計

高效能探頭（具備探頭相容性、記憶體、統計運算和資料傳輸等功能） 需另外購買。 （探頭與SWT-9000系列及更早型號不相容。） 可根據測量應用選擇合適的連接探頭。 液晶螢幕上會顯示操作說明指南。 大容量測量記憶體（NEOⅡ：20,000 點，NEOⅢ：40,000 點）。 透過註冊校準曲線輕鬆回憶測量結果 具有上下限設定和內建統計計算功能。 資料可以透過USB連線傳輸到電腦。 內建低功耗無線輸出（NEO-III）。 傾斜支架 噴漆/襯裡/電鍍 絕緣塗層，例如陽極氧化鋁